세라믹 제품

구형 실리카

MEGASIL™ SS

구형 실리카 분말은 반도체 장치(예: 5G 및 IoT 장치에 연결된 메모리 집적 회로(IC))를 물리적 및 환경적 손상으로부터 캡슐화하고 보호하는 열경화성 재료인 에폭시 몰딩 컴파운드(EMC) 및 그린 EMC(무할로겐, 무안티몬)의 생산에 사용됩니다.
적용 분야: 소비자 가전, 자동차, 산업용 전자제품.

입자 데이터 및 물리적 특성(낮음-a 등급)

평균값입니다.
이는 사양을 나타내지 않습니다.

크기 SS-U130R SS-U130H4 SS-U052H2 SS-U020H 방법
Ind. Sieve
<2μm
7.22
12.12
11.86
36.31
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<5μm
24.1
32.02
50.71
86.94
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<8μm
34.55
40.29
80.22
98.30
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<12μm
46.33
49.63
95.07
100.00
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<25μm
66.78
77.56
100.00
100.00
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<45μm
90.09
98.96
100.00
100.00
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<75μm
99.76
100.00
100.00
100.00
%
CILAS 레이저
입자 크기
D10
2.36
1.83
1.87
1.06
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D50
13.56
12.16
4.94
2.51
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D90
13.56
12.16
4.94
2.51
μm
CILAS 레이저
수분 함량
0.01
0.01
0.01
0.02
wt.%
105°C 오븐
pH 값
4.81
4.49
5.25
4.50
-
pH 측정기
비중
2.21
2.21
2.21
2.21
-
피크노미터
전기 전도성
2.3
1.70
0.40
6.40
μs/cm
E.C 미터
특정 표면적
4.5
3.86
1.16
28.20
m2/g
BET
순환성
0.97
0.95
0.97
-
-
FPIA

화학 분석(XRF)

SS-U130R SS-U130H4 SS-U052H2 SS-U020H 방법
SiO2
99.8
99.9
99.9
99.9
ppm
XRF
Al2O3
826
491
129
654
ppm
XRF
Fe2O3
47
48
40
133
ppm
XRF
Na2O
47
15
25
32
ppm
XRF

이온 불순물(IC)

SS-U130R SS-U130H4 SS-U052H2 SS-U020H 방법
Na+
2.4
1.0
1.1
8.4
ppm
I.C
Cl-
1.3
0.4
0.9
1.4
ppm
I.C

입도 데이터 및 물리적 특성(표준 등급, 혼합 유형)

평균값입니다.
이는 사양을 나타내지 않습니다.

크기 SS-0140R SS-0160R SS-0160H SS-0170R SS-0140C5 방법
Ind. Sieve
<2μm
7.98
8.99
8.16
8.29
36.31
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<5μm
25.73
27.76
30.96
26.04
27.84
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<8μm
34.00
37.29
40.17
35.80
36.50
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<12μm
42.67
47.68
47.59
43.00
45.61
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<25μm
59.71
67.73
62.03
60.46
64.61
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<45μm
88.01
90.70
86.86
86.90
91.94
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<75μm
99.74
99.80
99.61
99.63
99.91
%
CILAS 레이저
입자 크기
D10
2.24
2.11
2.23
2.20
2.12
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D50
16.71
13.08
13.60
16.49
12.98
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D90
47.23
44.15
48.58
48.46
42.45
μm
CILAS 레이저
수분 함량
0.01
0.01
0.01
0.01
0.01
wt.%
105°C 오븐
pH 값
4.45
4.50
4.50
4.54
4.40
-
pH 측정기
비중
2.21
2.21
2.21
2.21
2.21
-
피크노미터
전기 전도성
1.70
1.70
1.70
1.30
2.20
μs/cm
E.C 미터
특정 표면적
3.20
4.90
3.90
3.70
4.10
m2/g
BET
순환성
0.95
0.95
0.95
0.95
0.96
-
FPIA

화학 분석(XRF)

SS-0140R SS-0160R SS-0160H SS-0170R SS-0140C5 방법
SiO2
99.8
99.8
99.8
99.8
99.8
%
XRF
Al2O3
1119
998
898
926
1189
ppm
XRF
Fe2O3
75
50
38
51
67
ppm
XRF
Na2O
59
43
19
53
26
ppm
XRF

이온 불순물(IC)

SS-0140R SS-0160R SS-0160H SS-0170R SS-0140C5 방법
Na+
1.8
2.2
1.3
1.7
2.0
ppm
I.C
Cl-
2.1
1.3
1.3
1.5
1.8
ppm
I.C

입도 데이터 및 물리적 특성(표준 등급, 단일 성분)

평균값입니다.
이는 사양을 나타내지 않습니다.

크기 SS-0030 SS-0090 SS-0250 SS-0300 방법
Ind. Sieve
<2μm
12.23
8.9
4.68
4.73
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<5μm
53.92
26.74
12.91
14.63
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<8μm
72.26
43.04
17.09
19.78
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<12μm
86.45
67.14
24.33
27.20
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<25μm
99.42
96.99
48.14
47.51
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<45μm
100
100
80.53
78.05
%
CILAS 레이저
Ind. Sieve
<75μm
100
100
99.63
99.48
%
CILAS 레이저
입자 크기
D10
1.65
2.12
3.46
3.20
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D50
4.55
9.09
26.04
26.70
μm
CILAS 레이저
입자 크기
D90
13.59
18.73
53.26
54.94
μm
CILAS 레이저
수분 함량
0.02
0.01
0.01
0.01
wt.%
105°C 오븐
pH 값
4.14
4.86
4.96
5.01
-
pH 측정기
비중
2.21
2.21
2.21
2.21
-
피크노미터
전기 전도성
4.8
1.7
0.80
0.90
μs/cm
E.C 미터
특정 표면적
11.6
1.6
1.1
0.9
m2/g
BET
순환성
0.85
0.91
0.85
0.87
-
FPIA
체 잔여물
45μm켜짐
0.14
0.04
11.58
11.93
wt.%
젖은 체
체 잔여물
75μm켜짐
0
0
0.02
0.02
wt.%
젖은 체
체 잔여물
106 μm켜짐
0
0
0
wt.%
젖은 체

화학 분석(XRF)

SS-0030 SS-0090 SS-0250 SS-0300 방법
SiO2
99.7
99.8
99.8
99.8
%
XRF
Al2O3
1216
610
597
1040
ppm
XRF
Fe2O3
86
43
48
48
ppm
XRF
Na2O
55
43
40
40
ppm
XRF

이온 불순물(IC)

SS-0030 SS-0090 SS-0250 SS-0300 방법
Na+
2.8
2.4
1.3
0.8
ppm
I.C
Cl-
2.4
2.6
1.1
1.3
ppm
I.C

활용 분야

  • 소비자
  • 자동차
  • 산업용 전자 제품

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구형 실리카 – 메가실

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구형 실리카 – 메가실

Hidden
성명*
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